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纳科科技有限公司

  • 联系人 :陈委清
  • 手机: 13641443960
  • 电话 :0755-26989323
  • 传真 :
  • 邮编 :
  • 地址 :中国 广东 深圳 深圳市南山区 科技园1号
  • 网址 :资料不详
  • 商铺 : http://10086066114.qymgc.com

公司简介

纳科科技有限公司专业提供电子产品失效分析和可靠性解决方案,产品涵盖全球一流的非破坏性和破坏性失效分析和可靠性的设备以及相关流程方案。      纳科科技拥有一批有着多年丰富经验的半导体封装行业和失效分析领域经验的销售人员、应用技术支持及服务人员;不仅为您的电子产品提供品质保证和控制、失效分析,更能为您的相关检测和分析流程提供应用技术支持和行之有效的咨询顾问服务等附加值。      优良的产品品质和优质的技术支持和服务,我们与客户建立了良好的关系和声誉;我们的关系客户有:ASAT、STS、粤晶高科、中芯国际、诺基 亚、伟创力、华南理工大学、富士康、电子五所、SGS通标标准分析中心、CTI华测检测、比亚迪、华为技术、中兴通讯、深南电路、艾默生集团、美的集团、 香港科技大学、香港科技园分析中心。      纳科科技执着的追求,是在电子失效和可靠性行业做到“专业、专注、专精”,为求让自己的电子产品失效分析和可靠性服务最终落实到用户产品的工艺 改进、研发能力提高、产品质量改善的成功。我们以满足客户的需求为己任,为客户提供世界知名品牌的失效分析和可靠性设备和服务,力争成为中国客户公认的销 售和服务供应商之一。 经营特点: 更强大的技术开发基地: 持续强大的应用服务人才队伍,以不断扩充技术功能来满足不同发展阶段,            不同地区的多种用户需求; 更完善的区域技术服务: 积极建设区域办事处服务网络,真正做好当地用户的技术服务工作; 更专业于质量解决方案: 专注于提供整套失效分析和可靠性的解决方案; 更投入电子可靠性服务: 专业的电子可靠性服务可提升客户的产品质量,分析能力,创造更高的附加            价值。 纳科主要经营产品:超声扫描检测设备,X射线2D和CT检测设备,自动塑封开封设备,样品制备设备和耗材,扫描电镜和能谱仪,等离子刻蚀,光发射显微镜,红外热相仪,热阻分析仪,焊点可靠性事件发生仪,邦定推拉力测试设备,探针台,曲线描绘仪。 厂商 设备名称 中文名称 国家 Sonoscan C-SAM   美国 Feinfocus X-Ray X射线2D和CT检测设备 德国 Nisene Decap 自动塑封开封设备 美国 Buehler Cross Section 样品制备设备和耗材 美国 Hitachi SEM 扫描电镜 日本 Samco RIE 等离子刻蚀 日本 QFI EMMI 光发射显微镜 美国 QFI InfraScope 红外热相仪 美国 Analysistech Thermal Analyzer 热阻分析仪 美国 Analysistech Event Detector 焊点可靠性事件发生仪 美国 Dage Bond Tester 邦定推拉力测试设备 英国 Advanced Probe Station 探针台 台湾 Advanced Auto Curve Tracer 曲线描绘仪 台湾

公司名称 纳科科技有限公司
主营产品 电子产品失效分析和可靠性解决方案及无损相关检测设备
员工人数 资料不详
详细地址 中国 广东 深圳 深圳市南山区 科技园1号

主营产品

电子产品失效分析和可靠性解决方案及无损相关检测设备

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